Neuartiges Testverfahren für HGÜ Stromrichterventile mit Hochleistungs-Funktionsgenerator
Rolf Neubert wurde am 10. Mai 1957 geboren. Er erhielt seinen Dipl.-Ing. (FH) an der Fachhochschule Aachen im Jahr 1988. Seit diesem Jahr war er bei der Siemens AG in Erlangen für das Design von Stromrichterventilen für die Hochspannungsgleichstromübertragung verantwortlich. 1995 wechselte er in die Abteilung zur Entwicklung und Prüfung von Thyristorventilen. 2012 wurde er leitender Ingenieur für Ventilprüfungen und übernahm ein Team für die Typprüfungen an Thyristorventilen für HGÜ- Stromrichtern und statische Blindleistungskompensatoren. Heute ist er Leiter des neuen Systemprüfhauses für Hochleistungsventile der Siemens AG in Nürnberg. Seit 2012 ist er Mitglied in mehreren Wartungsgruppen des IEC-Unterausschusses 22F, mit dem Schwerpunkt „Prüfungen an Ventilen für HGÜ-Stromrichter und statische Blindleistungskompensatoren“.
Novel approach for HVDC converter valve testing using a high-power waveform generator
According to IEC 60700, operational type tests on HVDC thyristor modules can be performed either in a six-pulse back-to-back test circuit or in a synthetic test circuit. Because of the high rating of modern thyristors the use of a six-pulse bridge configuration would require facilities with a high installed capacity. In a synthetic test circuit even high current and voltage stresses can be generated using less than 1/100 of that installed capacity. Thus, synthetic test circuits are an economic alternative to test a representative part of a modern thyristor valve. Usually, synthetic test circuits consist of a high voltage part based on a resonant circuit and a high current part based on a B6-arrangement. This paper describes a novel test circuit for operational tests on thyristor modules. Within this novel approach both, the high voltage and high current circuit, benefit from modular voltage sourced converters (VSC) used as high-power wave form generators. While the flexible VSC voltage in the high voltage part is directly applied to the device under test, the VSC in the high current circuit sources a transformer and drives a high and flexible current through the device under test.